一种光纤干涉条纹投射中初相位及调制度测量控制方法专利登记公告

专利名称：一种光纤干涉条纹投射中初相位及调制度测量控制方法

摘要：本发明公开了一种光纤干涉条纹投射中初相位及调制度测量控制方法，涉及相位轮廓测量领域，构建光纤干涉条纹投射系统；根据所述光纤干涉条纹投射系统获取条纹投射测量模型；所述光纤干涉条纹投射系统根据所述条纹投射测量模型获取物体表面相位信息构建初始相位差及相位调制度系数的测量控制系统；获取初始相位及相位调制度系数k。本方法通过信号臂光纤和参考臂光纤端面菲涅尔反射，分析干涉信号优化相位调制度系数及测量初始相位，本方法结构简单，提高了测量精度，减少了计算量，避免了泄漏、混频和栅栏效应产生的误差。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210143260.5

专利申请（专利权）人：天津大学

专利发明（设计）人：段发阶;吕昌荣;张超;段晓杰;张甫恺

主权项：一种光纤干涉条纹投射中初相位及调制度测量控制方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：(1)构建光纤干涉条纹投射系统；(2)根据所述光纤干涉条纹投射系统获取条纹投射测量模型；(3)所述光纤干涉条纹投射系统根据所述条纹投射测量模型获取物体表面相位信息(4)构建初始相位差及相位调制度系数的测量控制系统；(5)获取初始相位及相位调制度系数k。FDA00001625156100011.jpg,FDA00001625156100012.jpg

专利地区：天津