一种双波长光纤干涉条纹投射三维形貌动态测量方法专利登记公告

专利名称：一种双波长光纤干涉条纹投射三维形貌动态测量方法

摘要：本发明公开了一种双波长光纤干涉条纹投射三维形貌动态测量方法，涉及三维形貌测量领域，构建双波长光纤干涉条纹投射系统；根据所述双波长光纤干涉条纹投射系统获取三维投射模型；所述双波长光纤干涉条纹投射系统根据所述三维投射模型获取物体表面三维形貌信息。本方法利用杨氏双孔干涉模型、光纤波分复用技术和马赫-泽德非平衡干涉仪结构实现光纤干涉条纹投射，利用光纤端面菲涅尔反射干涉条纹信号实现初始相位的测量，利用激光器电流注入法实现投射条纹相位调制。本发明结构简单，易于实现，提高了测量精度、避免了电压和亮度的非线性关系产生的误

专利类型：发明专利

专利号：CN201210143259.2

专利申请（专利权）人：天津大学

专利发明（设计）人：段发阶;吕昌荣;张超;段晓杰;张甫恺

主权项：一种双波长光纤干涉条纹投射三维形貌动态测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：(1)构建双波长光纤干涉条纹投射系统；(2)根据所述双波长光纤干涉条纹投射系统获取三维投射模型；(3)所述双波长光纤干涉条纹投射系统根据所述三维投射模型获取物体表面三维形貌信息。

专利地区：天津