原子力显微镜的力示踪方法专利登记公告

专利名称：原子力显微镜的力示踪方法

摘要：原子力显微镜的力示踪方法，涉及微观力测量方法技术领域，解决了现有的AFM单分子力谱法检测到的力信号容易被认为是AFM探针本身运动产生的而不是细胞表面上的动态过程产生的问题。原子力显微镜的力示踪方法，在反馈调节系统的控制下完成进针后，关闭反馈调节系统，通过得到的力-距离曲线确定AFM探针和被测物表面接触时AFM探针在Z方向的位置；AFM探针逐渐逼近被测物表面，当AFM探针和被测物表面刚好接触时，关闭反馈调节系统并停止进针，微悬臂随即发生偏转；利用数据采集卡采集微悬臂偏转随时间变化关系。本发明避免了压电陶瓷扫

专利类型：发明专利

专利号：CN201210146642.3

专利申请（专利权）人：中国科学院长春应用化学研究所

专利发明（设计）人：王宏达;潘延刚;蒋俊光;单玉萍;蔡明军

主权项：原子力显微镜的力示踪方法，其特征在于，该方法具有如下步骤：步骤一、首先，在进行力示踪测量前对AFM探针针尖进行待测分子的修饰，力示踪测量过程中，在反馈调节系统的控制下完成进针，之后关闭反馈调节系统，通过得到的力?距离曲线确定AFM探针和被测物表面接触时AFM探针在Z方向的位置；步骤二、确定AFM探针和被测物表面接触时AFM探针在Z方向的位置后，AFM探针会回缩至原位，AFM探针针尖修饰有检测物，设定AFM探针和被测物表面接触时的相关参数，开启反馈调节系统，使AFM探针逐渐逼近被测物表面，当AFM探针和被测

专利地区：吉林