磁圆二向色性光电导谱测量系统专利登记公告

专利名称：磁圆二向色性光电导谱测量系统

摘要：本发明公开了一种磁圆二向色性光电导谱测量系统，包括：液氦制冷机与低温超导磁体系统、超连续白光光源、单色仪、斩波器、格兰泰勒棱镜、光弹调制器、消色差透镜、电流源、两台锁相放大器、以及计算机。利用本发明，可以测量磁圆二向色性光电导谱(PC-MCD)，从而可以进一步研究物质的磁性质以及与自旋相关的能带结构和特性。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210150271.6

专利申请（专利权）人：中国科学院半导体研究所

专利发明（设计）人：黄学骄;王丽国;申超;朱汇

主权项：一种磁圆二向色性光电导谱测量系统，其特征在于，该系统包括：一超连续白光光源(LS)，其出射光经过单色仪后作为样品测试光源；一单色仪(SP)，对该超连续白光光源(LS)的出射光进行滤波，仅选择单一波长的光通过；一斩波器(CP)，对该单色仪(SP)出射光进行斩波调制，并为第一锁相放大器(LIA1)提供参考信号，从而得到样品光生电压的强度；一格兰泰勒棱镜(P)，用于将单色仪(SP)出射光变为线偏振光；一光弹调制器(MO)，用于将格兰泰勒棱镜(P)出射的线偏光变为周期性偏振调制光；一消色差透镜(L)，用于聚焦入射

专利地区：北京