半导体整流器件动态分析仪和质量专利登记公告
专利名称:半导体整流器件动态分析仪和质量
摘要: 本发明公开了一种半导体整流器件质量分析仪器和质量分析方法.仪器由工况建立和微型计算机数据处理两大部分组成,采用本仪器和分析方法,是将半导体整流器件置于实际的整流工况中对其反向动态平均电流进行测试和分析.与常规的静态方法相比,能更可靠地预测器件上机时的质量优劣,提供更合理的质量筛选限,并能为改进产品质量提供技术依据.因此,它是整流器件的生产厂和使用厂分析器件质量的有效工具.
专利类型:发明专利
专利号:CN85107867
专利申请(专利权)人:石家庄市自动化研究所
专利发明(设计)人:赵富; 李增锡; 葛淑欣; 乔子高
主权项: 一种利用动态参数对半导体整流器进行质量分析的方法,其特征在所测量的是典型工况下的反向动态平均电流*,且通过变化工作电压、频率、环境温度而测得对应*的数据组,再根据数组绘制成*—t,*—T↓[a],*—T↓[j],T↓[a]—T↓[j]的曲线,最后通过对曲线特性的分析来判定整流器件的质量等级和确定分选界线。
专利地区:河北
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