散射物质多维光谱测量装置与方法专利登记公告

专利名称：散射物质多维光谱测量装置与方法

摘要：本发明公开了一种散射物质多维光谱测量装置，该测量装置包括光源、样品池、出射光检测器和物理扰动装置，所述光源的入射位置固定，所述样品池截面为方形且位置固定，出射光导出装置的位置是可移动的，进而改变样品池、光源和出射光检测器形成的光路，扰动装置可对被测物施加物理扰动。同时，本发明还公开了一种散射物质多维光谱测量方法，通过对所述出射光检测器的位置进行水平方向和竖直方向的移动，采集出射光斑半径光谱分布，实现多光程长的互不相关的非线性光谱测量，同时，本发明对被测物体施加物理扰动信号，进而得到光程长和物理扰动信号为变

专利类型：发明专利

专利号：CN201010152294.1

专利申请（专利权）人：天津大学

专利发明（设计）人：李刚;赵喆;林凌;王慧泉

主权项：一种散射物质多维光谱测量装置，包括光源、样品池、出射光检测器和扰动装置，其特征在于：所述光源的入射位置是固定的，所述样品池位置是固定的、且截面为方形；所述出射光检测器是可移动的，所述光源射出并经样品池到出射光检测器所形成的光路是变化的；所述扰动装置为一用于对被测物施加物理扰动的物理扰动装置。

专利地区：天津