测量系统和方法专利登记公告

专利名称：测量系统和方法

摘要：本发明涉及一种测量系统和方法。该测量系统包括可产生复数个调制相移光线的光源单元、可反射所述复数个调制相移光线到物体表面的投射单元、可捕获由物体表面反射的调制相移光线的光学单元、可接收来自光学单元的调制相移光线并产生电信号的光电探测装置及可基于来自所述光电探测装置的电信号以获取所述物体表面的位置信息的处理装置。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010601226.9

专利申请（专利权）人：通用电气公司

专利发明（设计）人：陶立;宋桂菊;万新军;凯文·G·哈丁;史蒂文·R·哈亚西;詹姆士·J·霍夫曼;查尔斯·麦契摩;雅纳·Z·威廉斯;徐书宽

主权项：一种测量系统，包括：光源单元，其可产生复数个调制相移光线；投射单元，其可反射所述复数个调制相移光线到物体表面；光学单元，其可捕获由物体表面反射的调制相移光线；光电探测装置，其可接收来自光学单元的调制相移光线并产生电信号；及处理装置，其可基于来自所述光电探测装置的电信号以获取所述物体表面的位置信息。

专利地区：美国