发光二极管封装结构检测装置及检测方法专利登记公告

专利名称：发光二极管封装结构检测装置及检测方法

摘要：一种发光二极管封装结构检测装置，包括：发光二极管支架，该发光二极管支架用于装设发光二极管封装结构，该发光二极管封装结构具有N极与P极；加热组件，用于夹持发光二极管支架并对发光二极管支架进行加热，该加热组件包括上盖板和托板，该上盖板和托板将发光二极管支架夹持在中间；以及测试板，该测试板具有探针，用于供给发光二极管封装结构预定的电压和电流并对发光二极管封装结构进行检测。由此可实现对所有发光二极管封装结构的检测，避免随机检测的遗漏和不确定性的缺失。本发明还涉及一种发光二极管封装结构的检测方法。

专利类型：发明专利

专利号：CN201010612272.9

专利申请（专利权）人：展晶科技（深圳）有限公司;荣创能源科技股份有限公司

专利发明（设计）人：孔维江;江宗瀚

主权项：一种发光二极管封装结构检测装置，包括：发光二极管支架，该发光二极管支架用于装设发光二极管封装结构，该发光二极管封装结构具有N极与P极；加热组件，用于夹持发光二极管支架并对发光二极管支架进行加热，该加热组件包括上盖板和托板，该上盖板和托板将发光二极管支架夹持在中间；以及测试板，该测试板具有探针，用于供给发光二极管封装结构预定的电压和电流并对发光二极管封装结构进行检测。

专利地区：广东