使用干涉法的用于二维光程分布的绝对测量的装置专利登记公告

专利名称：使用干涉法的用于二维光程分布的绝对测量的装置

摘要：一种用于二维光程分布的绝对测量的装置，包括：光源(4)，用于以具有多个波长的光照明物体(26)；干涉仪(12)，用于形成物体的至少一部分的图像，该图像包括宽带干涉图；高光谱成像器(30)，与干涉仪光学连接，用于将宽带干涉图光谱地分成多个窄带二维干涉图(72，74，76)；寄存器(38)，用于空间地记录窄带干涉图；提取器，用于从每个窄带干涉图中相应的像素中提取一维光强信号；以及计算器(100)，用于针对对象上的每一点，根据与该点关联的一维光强信号计算出频率。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080042357.6

专利申请（专利权）人：拉夫伯勒大学

专利发明（设计）人：J·M·亨特利;P·D·鲁伊兹;T·威查纳尔科

主权项：一种用于二维光程分布的绝对测量的装置，包括：光源，用于以具有多个波长的光照明物体；干涉仪，用于形成物体的至少一部分的图像，该图像包括宽带干涉图；高光谱成像器，与干涉仪光学连接，用于将宽带干涉图光谱地分成多个窄带二维干涉图；寄存器，用于空间地记录窄带干涉图；提取器，用于从每个窄带干涉图中相应的像素中提取一维光强信号；以及计算器，用于针对对象上的每一点，根据与该点关联的一维光强信号计算出频率。

专利地区：英国