基于锗的量子阱器件专利登记公告
专利名称:基于锗的量子阱器件
摘要:一种量子阱晶体管具有锗量子阱沟道区。含硅的蚀刻停止层提供栅电介质接近沟道的容易放置。III-V族势垒层对沟道增加应变。沟道区之上和之下的缓变硅锗层改进了性能。多种栅电介质材料允许使用高k值栅电介质。
专利类型:发明专利
专利号:CN201080060555.5
专利申请(专利权)人:英特尔公司
专利发明(设计)人:R·皮尔拉瑞斯帝;B-Y·金;B·楚-昆古;M·V·梅茨;J·T·卡瓦利罗斯;M·拉多萨佛杰维科;R·科托尔亚;W·瑞驰梅迪;N·穆克赫吉;G·德威;R·乔
主权项:一种器件,包括:包括大带隙材料的下势垒区;在所述下势垒区上的包括锗的量子阱沟道区;在所述量子阱区上的包括大带隙材料的上势垒区;在所述量子阱沟道区上的间隔区;在所述间隔区上的蚀刻停止区,所述蚀刻停止区包括硅且基本上无锗;在所述蚀刻停止区上的栅电介质;在所述栅电介质上的栅电极。
专利地区:美国
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。