一种钇铝氧复合氧化物高K介质薄膜晶体管的制备方法专利登记公告
专利名称:一种钇铝氧复合氧化物高K介质薄膜晶体管的制备方法
摘要:本发明公开了一种YAlO3复合氧化物高K介质薄膜晶体管的制备方法,以金属钇靶(Y)和铝靶(Al)为源材料,采用磁控溅射和快速退火技术来制备YAlO3复合氧化物高K介质作为薄膜晶体管的栅介质层材料,并且以ITO玻璃作为衬底,源、漏电极为Ti/Au双层金属膜电极,制得的薄膜晶体管可采用顶栅结构或者底栅结构;本发明的制备方法简单可控,可实现低温制备,制造成本较低;制得的薄膜晶体管性能优良,具有较小的漏电流和较大的电容,可发展成全透明薄膜晶体管,在显示器件技术领域应用前景十分广阔。
专利类型:发明专利
专利号:CN201110056308.4
专利申请(专利权)人:中国科学院宁波材料技术与工程研究所
专利发明(设计)人:俞峥;曹鸿涛;梁凌燕;许望颖;方燕群;叶小娟
主权项:一种钇铝氧复合氧化物高K介质薄膜晶体管的制备方法,其特征在于包括以下步骤:1)选择ITO玻璃作为衬底,并对衬底进行超声清洗,预留边缘一部分作为栅电极;2)采用磁控溅射镀膜设备及金属钇靶和铝靶,在衬底温度条件下在衬底上用反应溅射沉积钇铝氧YAlO3复合氧化物薄膜,然后进行退火处理,完成栅介质层的制备;3)在栅介质层上制备沟道层;4)在沟道层上制备源电极和漏电极,制得底栅结构的YAlO3复合氧化物高K介质薄膜晶体管。
专利地区:浙江
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。