处理和/或分析样品的粒子束装置和方法专利登记公告
专利名称:处理和/或分析样品的粒子束装置和方法
摘要:本发明涉及一种用于处理和/或分析样品(8)的粒子束装置(1)和方法。该粒子束装置(1)和该方法的特征在于:样品载具(24)布置在第一位置,其中样品表面(32)平行于第一粒子束柱(2)的第一束轴(21)。样品载具(24)可以从第一位置旋转到第二位置,在第二位置,样品表面(32)垂直于第二粒子束柱(3)的第二束轴(22)。第一束轴(21)和第二束轴(22)在重合点(23)处相交。在第一位置,重合点(23)和第一粒子束柱(2)之间的距离大于样品表面(32)和第一粒子束柱(2)之间的距离。而且,在第二位置,重合点
专利类型:发明专利
专利号:CN201210005767.4
专利申请(专利权)人:卡尔蔡司NTS有限责任公司
专利发明(设计)人:A.谢尔特尔
主权项:一种粒子束装置(1),包括:至少一个第一粒子束柱(2),其具有第一束轴(21)并且设计用于产生第一粒子束,至少一个第二粒子束柱(3),其具有第二束轴(22)并且设计用于产生第二粒子束,其中所述第一粒子束柱(2)和所述第二粒子束柱(3)被相对于彼此布置,使得所述第一束轴(21)和所述第二束轴(22)形成与0°和180°不同的第一角度(W1),至少一个样品载具(24),其能够围绕旋转轴(25)旋转,其中所述旋转轴(25)与所述第一束轴(21)形成第二角度(W2),其中所述旋转轴(25)与所述第二束轴(22)形
专利地区:德国
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。