一种减少浅沟槽隔离缺陷的方法专利登记公告
专利名称:一种减少浅沟槽隔离缺陷的方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:上海华力微电子有限公司...Read more
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专利名称:一种减少浅沟槽隔离缺陷的方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:上海华力微电子有限公司...Read more
专利名称:一种使用金属硬掩膜提高STI特性的方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:上海华力微电子有限公司...Read more
专利名称:注射封胶系统及其方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:群成科技股份有限公司...Read more
专利名称:一种可伸缩RFID电子标签及其制造方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:华中科技大学...Read more
专利名称:植球装置、焊球拾取方法以及焊球安装方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:三星半导体(中国)研究开发有限公司;三星电子株式会社...Read more
专利名称:一种顶层金属的形成方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:上海宏力半导体制造有限公司...Read more
专利名称:一种半导体器件低温固态键合的方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:上海交通大学...Read more
专利名称:通过测量隧穿电场来快速评价SONOS可靠性的方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:上海华虹NEC电子有限公司...Read more
专利名称:利用集成pn结测量多芯片埋置型封装芯片接面温度的方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所...Read more
专利名称:一种贴片二极管快速质检板;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:如皋市易达电子有限责任公司...Read more
专利名称:一种集成电路缺陷点定位方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:郑海鹏...Read more
专利名称:加工装置;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:株式会社迪思科...Read more
专利名称:用于内部稀薄气流模拟验证及压力检测的变结构真空腔室;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:清华大学...Read more
专利名称:生产包括半导体部分和非半导体部分的装置的系统和方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:英飞凌科技股份有限公司...Read more
专利名称:一种薄膜光电子器件短路缺陷钝化方法及其装置;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:迅力光能(昆山)有限公司...Read more
专利名称:一种多晶硅薄膜晶体管的制备方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:广东中显科技有限公司...Read more
专利名称:非对称高压MOS器件的制造方法及结构;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:上海华虹NEC电子有限公司...Read more
专利名称:双层栅沟槽MOS结构中形成底部氧化层的方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:上海华虹NEC电子有限公司...Read more
专利名称:在超级结MOSFET中集成肖特基二极管的方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:上海华虹NEC电子有限公司...Read more
专利名称:一种具有埋入式栅极结构的金属氧化物薄膜晶体管的制作方法;专利类型:发明专利;专利申请(专利权)人:广州新视界光电科技有限公司;华南理工大学...Read more